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半导体测试探针的的原理

标签:探针 测试探针

半导体测试探针的的原理

  半导体测试探针(高频探针)主要应用于BGA芯片测试,微型BGA原件,测试架,手机,电脑,通信等;其应用评率为500MHz,测试中所采用的针的数量根据具体的BGA IC 与其治具的规格不同而不同, 测试治具的间距有0.4/0.5/0.65/0.75/1.0/1.27/2/2.54MM不等。

   半导体测试探针(高频针)主要应用行业如:手机、电脑、通信等。主要芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行,主要需求量最大需芯片封装测试行业。                                                                                                        

P125(125MIN)测试探针规格详解

P125(125MIN)测试探针规格详解

PCB弹簧测试探针主要应用于PCB链接,是其链接的元器件,测试探针在测试过程实现导通作用。应用范围广泛,随着工业发展的电子PCB的不断升级,电子PCB测试探针也在研发各种规格的产品来满足测试需求;由于不同大小的测试板需不同规格的测试针去满足测试,所以PCB探针的规格一直在发生着变化,现在有很多成品125min测试探针,,你可以咨询一下华荣华测试探针厂!下面分析一下125min测试探针详解以供选择和参考:一、华荣华125min测试探针尺寸二、华荣华125min测试探针头型三、华荣华125min测试探针技术要求以及材质四、华荣华125min测试探针套的规格型号以及尺寸详解

2020-02-24

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